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X射線熒光光譜分析儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的制樣要求
更新時(shí)間：2016-10-29 點(diǎn)擊次數(shù)：1960次
X射線熒光光譜分析儀可以放出X射線對(duì)試樣進(jìn)行照射，使試樣被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線，再將混合的X射線按波長(zhǎng)分開，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)的X射線的強(qiáng)度，從而進(jìn)行定性和定量分析。X射線熒光光譜分析儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本要求如下：
?。?）組成標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素種類與未知樣相似，是相同的；
（2）標(biāo)準(zhǔn)樣品中所有組分的含量必須已知；
（3）標(biāo)準(zhǔn)樣品中被測(cè)元素的含量范圍要包含未知樣中所有的被測(cè)元素；
?。?）標(biāo)準(zhǔn)樣品的狀態(tài)（如粉末樣品的顆粒度、固體樣品的表面光潔度以及被測(cè)元素的化學(xué)態(tài)等）應(yīng)和未知樣一致，或能夠經(jīng)適當(dāng)?shù)姆椒ㄌ幚沓梢恢隆?/div>
X射線熒光光譜分析儀使用的標(biāo)準(zhǔn)樣品可以向研制和經(jīng)營(yíng)標(biāo)準(zhǔn)樣品的機(jī)構(gòu)購(gòu)買，如果買不到合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品，可以委托分析人員研制，但應(yīng)考慮費(fèi)用和時(shí)間的承受能力。
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