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惠州市華高儀器設備有限公司
聯系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
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X射線熒光鍍層測厚儀
- 更新日期：2025-12-09
- 訪問次數：212?
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720華唯
| 配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
| Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上?？祁U維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
| Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
| Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上?？祁U維（國產） | spellman(進口) |
產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um(以材料元素判定)
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹：
Ux-720新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器)，測量精度和測量結果業(yè)界。
采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節(jié)設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。
樣品移動設計為樣品腔外部調節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
Ux-720標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機
Ux-720可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應商信息自動篩選和保存
X射線熒光鍍層測厚儀是一種用于測量各種基材表面涂層的厚度、成分和均勻性的儀器。它通過向待測物體表面發(fā)射X射線，利用物體表面的涂層中被激發(fā)出的熒光信號來分析涂層的厚度和成分。該儀器廣泛應用于材料科學、化工、制造業(yè)、質量檢驗等領域。
X射線熒光鍍層測厚儀的特點：
1.非破壞性測試：該儀器是一種非破壞性測量方法，不會對被測物品造成任何損傷。
2.測量精度高：能夠測量非常薄的涂層厚度，精度可以達到0.1微米。
3.測量速度快：能夠在幾秒鐘內完成一次測量，非常適合在生產線上進行大量測量。
4.可適用于多種材料：適用于多種材料的涂層測厚，例如金屬、塑料和陶瓷等。
5.可靠性高：采用先進的測量技術和設備，能夠保證測量結果的準確性和可靠性。
6.易于操作：操作簡單，需要較短的培訓時間，即可掌握測量技能。